大理石平臺(tái)也稱大理石平板、花崗石平臺(tái)、花崗巖平臺(tái)、巖石平板、平板等，是用于工件檢驗(yàn)或者劃線工作中的平面基準(zhǔn)器具，由大理石平臺(tái)生產(chǎn)廠家選用堅(jiān)硬易加工的火成巖、輝長(zhǎng)巖、輝綠巖以及其它具有相同性能的巖石加工制造研磨而成，廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工制造活動(dòng)中。

大理石平臺(tái)的檢測(cè)方法和精度等級(jí)：

一、大理石平臺(tái)的檢測(cè)方法

1) 電子水平儀/自準(zhǔn)直儀掃描法

利用電子水平儀測(cè)量平臺(tái)表面各點(diǎn)相對(duì)于水平面的傾角變化，通過(guò)數(shù)學(xué)模型（方格法、對(duì)角線法等）計(jì)算出平面度誤差。

2) 刀口尺/平尺光隙法

利用高精度的刀口尺或平尺，以其刃口作為理想直線基準(zhǔn)，貼合在工作面上，觀察尺與工作面之間透光縫隙（光隙）的大小和形狀，來(lái)判斷直線度，然后通過(guò)多個(gè)方向的測(cè)量來(lái)估算平面度。

3) 光學(xué)平面干涉儀法

利用光的干涉原理，將標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)平晶的工作面與被測(cè)平臺(tái)工作面接觸或形成微小氣隙，通過(guò)觀察干涉條紋（牛頓環(huán)）的形狀、數(shù)量和彎曲程度來(lái)計(jì)算局部平面度。

二、大理石平臺(tái)精度等級(jí)

根據(jù)大理石平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)GB/T20428-2006標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，大理石平臺(tái)廠家生產(chǎn)的大理石平臺(tái)精度等級(jí)分為0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)和3級(jí)四個(gè)精度等級(jí)，其中0級(jí)、1級(jí)和2級(jí)作為檢驗(yàn)平臺(tái)、檢測(cè)平臺(tái)、測(cè)量平臺(tái)使用，3級(jí)大理石平臺(tái)作為劃線平臺(tái)使用。