大理石平臺(tái)也稱大理石平板、花崗石平臺(tái)、巖石平板、平板，是用于工件檢驗(yàn)或者劃線工作中的平面基準(zhǔn)器具，按照大理石平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)GB/T20428-2006標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，大理石平臺(tái)廠家生產(chǎn)的大理石平臺(tái)等級(jí)分為0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)和3級(jí)，具體大理石平臺(tái)等級(jí)平面度要求為：

0級(jí)鑄鐵平臺(tái)平面度允差（微米）=0.003*鑄鐵平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+2.5；

1級(jí)鑄鐵平臺(tái)平面度允差（微米）=0.006*鑄鐵平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+5；

2級(jí)鑄鐵平臺(tái)平面度允差（微米）=0.012*鑄鐵平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+10；

3級(jí)鑄鐵平臺(tái)平面度允差（微米）=0.024*鑄鐵平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+20。

如何檢測(cè)大理石平臺(tái)的平面度？

（1）透光法 這種方法比較簡(jiǎn)單，就是用一根標(biāo)準(zhǔn)平尺，用燈照射，觀察大理石平臺(tái)與平尺接觸面透光情況。這種情況只知道平板平面度的情況，而不知道平面度誤差。

（2）插人法鏟刮好的大理石平臺(tái)表平面上放置一根工字平尺，用塞尺塞人大理石平臺(tái)與平尺之間的縫 隙中，平尺放的位置與透光法、研點(diǎn)法相同，這種方法可以測(cè)量出大理石平臺(tái)的至大誤差值，但只限于平面度誤差大于0.01mm的間隙。

（3）塞人法大理石平臺(tái)上安放兩個(gè)等高墊鐵，平尺放置在等高墊鐵上。大理石平臺(tái)工作面 與平尺面之間塞入量塊，其平尺所放的位置與透光法、配研法相同。這種方法可以測(cè)量出平面度誤差值小于0.01mm的情況。

（4）水平儀測(cè)量法 把被測(cè)量的大理石平臺(tái)調(diào)整到0. 02/1000位覚，使其處于水平狀態(tài)，就可以開(kāi)始對(duì)被測(cè)量平面進(jìn)行測(cè)量。

水平儀安放在一個(gè)水平儀墊鐵上(防止水平儀在移動(dòng)時(shí)，水平儀底平面磨損，使水平儀表失其精度)，水平儀與水平儀墊鐵同時(shí)放在平板表面上，按水平儀墊鐵長(zhǎng)度移動(dòng)，每移動(dòng)一次，將水泡移動(dòng)的格數(shù)記錄下來(lái)，其位置與透光法、配研法相同。按各數(shù)值畫成坐標(biāo)曲線，將凸的曲線至大值與凹的曲線至大值相加，這就是大理石平臺(tái)平面的平面度誤差。

   (5)光學(xué)儀測(cè)量法用光學(xué)儀測(cè)量大理石平臺(tái)平面精度很高，它的讀數(shù)值一格為0. 001/200。

光學(xué)儀器安放在靠近被測(cè)量平板的附近支承架上。反光鏡固定在一塊墊鐵上，一起放在被測(cè)量的大理石平臺(tái)平面上，移動(dòng)反光鏡，將測(cè)量數(shù)值記錄下，畫出坐標(biāo)曲線圖，找出其誤差值，其方法與水平儀方法相同。